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產品簡介
TUV756紫外可見分光光度計（掃描型）波長范圍：190-1100nm 波長準確度：±0.5nm波長重復性：0.2nm光譜帶寬：2nm透射比準確度：±0.5%T透射比重復性：0.2%T
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產品分類| 品牌 | 其他品牌 | 價格區間 | 面議 |
|---|---|---|---|
| 產地類別 | 國產 | 應用領域 | 環保 |
TUV756紫外可見分光光度計（掃描型） 產品介紹：
1. 采用1200條/mm高性能光柵。新型的光源控制系統，使儀器光源切換快速。
2. 2nm帶寬，使測試數據更準確。使用長壽命光源，使儀器光源切換快速。
3.波長控制系統，使波長精度高。改良的光學系統，使測試準確。
4.光電轉換器，使儀器的靈敏度更高。
5.新型的微電腦數據處理系統。使儀器的使用簡便，穩定性也很好。
6.儀器采用128*64位點陣液晶顯示器，可直接顯示標準曲線和測試數據，主機可存儲測試數據，并可選配打印機；
UV756CRT型紫外可見分光光度計在UV756的基礎上增加了全波段自動掃描功能和連接微機功能。
TUV756紫外可見分光光度計（掃描型） 儀器參數：
波長范圍：190-1100nm
波長準確度：±0.5nm
波長重復性：0.2nm
光譜帶寬：2nm
透射比準確度：±0.5%T
透射比重復性：0.2%T
光度范圍：-3~3A ，0-200%T，0~9999C
基線平直度：±0.001A/h
雜散光：0.05%T@220nm、360nm
穩定性：±0.001A/小時 @500nm
顯示方式：128*64位點陣液晶顯示
Rs232通訊：USB接口
打印機：選配
分析軟件：支持
自動八聯比色池：選配
光學系統：雙光束比例監測
噪聲水平：±0.001A/2min@500nm
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